- 2018/7/25
- MLCC基本知识介绍
- 2018/7/25
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MLCC基本知识介绍
MLCC简介
MLCC基本结构
MLCC分类
容量
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
|||||
容量 |
Ⅰ类 ClassⅠ |
应符合指定的误差级别 |
标称容量 |
测试频率 |
测试电压 |
||
≤1000pF |
1MHZ±10% |
1.0±0.2Vrms |
|||||
>1000pF |
1KHZ±10% |
||||||
Ⅱ类 ClassⅡ |
应符合指定的误差级别 |
对于Ⅱ类电容器,测试前应先预处理 |
|||||
测试频率 |
测试电压 |
||||||
1KHZ±10% |
X7R |
1.0 ±0.2Vrms |
|||||
Z5U/Y5V |
0.5±0.2Vrms |
损耗角正切
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
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损耗角正切 |
Ⅰ类 ClassⅠ |
DF≤0.15% |
标称容量 |
测试频率 |
测试电压 |
|
≤1000pF |
1MHZ±10% |
1.0 ±0.2Vrms |
||||
>1000pF |
1KHZ±10% |
|||||
Ⅱ类 ClassⅡ |
X7R |
额定电压: Rated Voltage: ≥25V ,DF≤ 3.0% ≤ 16V ,DF≤ 3.5% |
测试频率:1KHZ±10% 测试电压:1.0±0.2Vrms |
|||
Y5V Z5U |
额定电压: Rated Voltage: ≥50V,DF≤5.0% =25V,DF≤7.0% ≤16V,DF≤9.0% |
测试频率:1KHZ±10% 测试电压:0.5±0.2Vrms |
绝缘电阻
项目 |
技术规格 |
测试电压:额定电压 测试时间:60±5秒
|
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绝缘电阻(IR) |
Ⅰ类 ClassⅠ |
C≤10nF,IR≥50000MΩ C>10nF,R.C≥ 500ΩF |
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Ⅱ类 ClassⅡ |
X7R |
C≤25 nF,IR≥10000MΩ C>25 nF,R.C>100ΩF |
||
Y5V Z5U |
C≤25 nF,IR≥4000MΩ C>25 nF,R.C>100ΩF |
介质耐电强度(DWV)
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
介质耐电强 度(DWV) |
不应有介质被击穿或损伤 |
测量电压: Ⅰ类:300%额定电压 Ⅱ类:250%额定电压 时间: 5±1 秒 放电电流:不应超过50mA (这部分说明不包括中高压MLCC) |
可焊性
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
可焊性 |
上锡率应大于95% 外观:无可见损伤 |
浸锡温度:235 ±5 摄氏度 浸锡速度:25 ±2mm/sec 浸锡时间:2± 0.5s |
耐焊接热
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
|||||
耐焊接热 |
项目 |
NPO至SL |
X7R |
Y5V |
Z5U |
将电容在100~200摄氏度的温度下预热10±2分钟。 浸锡温度:265±5摄氏度 浸锡时间:5±1s 然后取出溶剂清洗干净,在10倍以上的显微镜底下观察。 放置时间:24±2小时 放置条件:室温 |
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△C/C |
≤0.5% |
-5~ +10 % |
-10~ +20% |
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DF |
同初始标准 |
||||||
IR |
同初始标准 |
||||||
外观:无可见损伤 上锡率:≥95% |
抗弯曲强度
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
|
抗弯曲强度 |
外观:无可见损伤 |
试验基板:PCB 弯曲深度:1mm 施压速度:0.5mm/sec. 单位:mm 应在弯曲状态下进行测量。 |
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△C/C |
Ⅰ类 ± :≤ 5% |
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Ⅱ类: B:≤±12.5% E,F:≤±30% |
端头结合强度
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
端头结合强度 |
外观无可见损伤 |
施加的力:5N 时间:10 ±1S |
温度循环
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
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温度循环 |
△C/C |
Ⅰ类:≤±2.5% 或±0.25pF 取两者中最大者 Ⅱ类:B:≤±7.5% E,F:≤±20% |
预处理*( 2类):上限类别温度,1小时 恢复:24± 1h 初始测量 循环次数:5次 一个循环分以下4步:
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DF |
同初始标准 |
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IR |
同初始标准 |
潮湿试验
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
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潮湿试验 |
△C/C |
Ⅰ类:≤±2.5% 或±0.25pF 取两者中最大者 Ⅱ类:B:≤±12.5% E,F:≤±30% |
温度:40± 2 摄氏度 湿度:90~ 95%RH 施加电压:额定工作电压 时间:500小时 充电电流:不应超过50mA 放置条件:室温 放置时间: 24小时 (Ⅰ类) ;48 小时(Ⅱ类) |
DF |
≤2倍初始标准 |
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IR |
500MΩ或25Ω.F 取两者之中较小者 |
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外观:无损伤 |
寿命试验
项目 |
技术规格 |
测试方法 |
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寿命试验 |
△C/C |
Ⅰ类:≤±3% 或±0.3pF 取两者中最大者 Ⅱ类:B:≤±12.5% E,F:≤±30% |
电压:2倍额定工作电压 时间:500小时 充电电流:不应超过50mA 放置条件:室温 放置时间: 24小时 (Ⅰ类) ;48 小时(Ⅱ类) |
DF |
≤2倍初始标准 |
||
IR |
500MΩ或25Ω.F 取两者之中较小者 |
||
外观:无损伤 |
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